Ключевые слова: MgB2, level sensor, hydrogen liquid, transporter, cryostat, measurement technique
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, n-value, critical caracteristics, critical current, mechanical properties, bending process, experimental results, damage mechanisms
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, mechanical properties, bending process, critical caracteristics, critical current distribution, modeling, numerical analysis
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H., Shin J.K., Mukai Y., Matsubayashi H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, composites, bending process, critical current, modeling, numerical analysis, critical caracteristics
Ключевые слова: MgB2/Fe, tapes, ex-situ process, pressure effect, precursors, powder processing, fabrication, Jc/B curves, microstructure, critical caracteristics
Katagiri K., Kasaba K., Kuroda T., Obara T., Itoh K.(itoh.kikuo@nims.go.jp)
Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Nakane T., Kumakura K., Uematsu H.
Haken B., Kiuchi M., Itoh K., Goldacker W., Katagiri K., Noto K., Ochiai S., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Haessler W., Otabe S., Shin H.S.*10, Sosnowski J.*11, Weijers H.*12, Wada H.*13, Kumakura K.
Kumakura H., Nakane T.(NAKANE.Takayuki@nims.go.jp), Fujii H., Kuroda T., Jiang C.H., Mochiku T.
Ключевые слова: MgB2, precursors, nanodoping, tapes, fabrication, PIT process, critical current density, microstructure, critical caracteristics
Wada H., Itoh K., Kumakura H., Katagiri K., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Shin H.-S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, mechanical strain, mechanical properties, substrate CeO2/IBAD-YSZ/Ni alloy, ISD process, buffer layers, REBCO, co-evaporation process, protection layer Au, critical current, bending process, stress effects, microstructure, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Kumakura H., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Nakane T., Suga Y., Miura K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.